Technical Analysis and Outlook:
The S&P 500 Index has undergone considerable price fluctuations during the trading sessions of this week, successfully reaching a critical target at the Mean Support level of 5800. Presently, the index is exhibiting an upward trend with a focus on the retest of the Inner Index Dip at 5955 and Key Resistance at 5965. Furthermore, additional significant levels have been identified, including the Next#1 Outer Index Rally at 6073, Key Resistance at 6150, and the Next#2 Outer Index Rally at 6235. Conversely, there is a potential for the index prices to downfall aiming to retest Mean Support 5800 and to complete the Outer Index Dip, noted at 5730.
The S&P 500 Index has undergone considerable price fluctuations during the trading sessions of this week, successfully reaching a critical target at the Mean Support level of 5800. Presently, the index is exhibiting an upward trend with a focus on the retest of the Inner Index Dip at 5955 and Key Resistance at 5965. Furthermore, additional significant levels have been identified, including the Next#1 Outer Index Rally at 6073, Key Resistance at 6150, and the Next#2 Outer Index Rally at 6235. Conversely, there is a potential for the index prices to downfall aiming to retest Mean Support 5800 and to complete the Outer Index Dip, noted at 5730.
Powiązane publikacje
Wyłączenie odpowiedzialności
Informacje i publikacje przygotowane przez TradingView lub jego użytkowników, prezentowane na tej stronie, nie stanowią rekomendacji ani porad handlowych, inwestycyjnych i finansowych i nie powinny być w ten sposób traktowane ani wykorzystywane. Więcej informacji na ten temat znajdziesz w naszym Regulaminie.
Powiązane publikacje
Wyłączenie odpowiedzialności
Informacje i publikacje przygotowane przez TradingView lub jego użytkowników, prezentowane na tej stronie, nie stanowią rekomendacji ani porad handlowych, inwestycyjnych i finansowych i nie powinny być w ten sposób traktowane ani wykorzystywane. Więcej informacji na ten temat znajdziesz w naszym Regulaminie.